Автоматизированное тестирование пластин (Wafer Probing)

Решение для масштабирования производства. Обеспечивается тестирование полупроводниковых пластин перед операциями скрайбирования и корпусирования.

Функционал

• Работа с пластинами диаметром до 200 мм в полуавтоматическом режиме.
• Формирование карты годности кристаллов (Wafer Map) в цифровом формате для сборочного оборудования.
• Статистический анализ выхода годных (Yield analysis).

Задействованное оборудование: Полуавтоматическая зондовая станция Terra-200 (НИИПП), интегрированная с измерительными комплексами.

Ориентировочная стоимость

• Подготовка оснастки и написание программы (Setup fee): 20 000 – 40 000 руб.
• Тестирование: тарификация за пластину или за кристалл (от 10 руб./чип при средних сериях).

Автоматизированное зондирование пластин. Wafer Probing. Зондирование полупроводниковых пластин. Тестирование пластин. Контроль пластин. Тестирование чипов на пластине. Зондовая станция услуги. Разделение на кристаллы. Сборочное производство. Масштабирование производства. Работа с пластинами до 200 мм. Полуавтоматический режим. Формирование карты годности. Wafer Map. Цифровой формат карты. Статистический анализ выхода годных. Yield analysis. Выход годных кристаллов. Полуавтоматическая зондовая станция Terra-200. Terra-200 НИИПП. Зондовая станция для пластин 200 мм. Измерительные комплексы для зондирования. Полупроводниковые пластины. Кристаллы. Чипы. Полупроводниковые приборы. Микросхемы на пластине. Производители полупроводников. Фабрики чипов. Сборочные производства. Корпусирование микросхем. Производство электроники. НИИПП. Услуги зондирования пластин. Тестирование пластин на заказ. Wafer probing услуги. Карта годности кристаллов. Yield анализ полупроводников. Зондирование пластин 200 мм. Terra-200 зондовая станция услуги. Подготовка оснастки от 20 000 руб. Написание программы зондирования. Setup fee. Тестирование от 10 руб./чип. Тарификация за пластину. Тарификация за кристалл.