Close
logо_full_head_rightlogо_full_head_rightlogо_full_head_rightlogо_full_head_right
  • О КОМПАНИИ
  • РАЗРАБОТКИ
  • УСЛУГИ И ТЕХНОЛОГИИ
  • ПРОДУКЦИЯ
  • КОНТАКТЫ
0
Русский

Продукция

  • Главная
  • Продукция
  • Услуги
  • Прецизионные электрические исследования и испытания ЭКБ
  • Характеризация и Параметрический анализ
Характеризация и Параметрический анализ
R&D Характеризация и Параметрический анализ

Характеризация и Параметрический анализ

2 500 ₽

Категория: Прецизионные электрические исследования и испытания ЭКБ
Описание
Данное направление ориентировано на дизайн-центры и разработчиков новой элементной базы. Специалисты компании проводят углубленное исследование опытных образцов и тестовых структур для верификации технологических процессов.

Технические возможности

  • Измерение вольт-амперных (ВАХ, I-V) и вольт-фарадных (C-V) характеристик с высокой точностью.
  • Анализ трансферных характеристик транзисторов (Isd(Vg)) для оценки пороговых напряжений и крутизны.
  • Построение частотных зависимостей емкости и сопротивления (C-f, R-f) в диапазоне от 20 Гц до 2 МГц.
  • Высокотемпературные измерения до 300°C на станции Ecopia EPS300.

Задействованное оборудование: Анализатор полупроводниковых приборов Keysight B1500A (мировой стандарт параметрического анализа), прецизионный измеритель LCR Keysight E4980A.

Ориентировочная стоимость:
  • Базовая характеризация (ВАХ/CV, 1 образец): от 2 500 руб.
  • Аренда лабораторного времени (с оператором): от 25 000 руб./смена.

R&D Характеризация. Параметрический анализ. Услуги для дизайн-центров. Разработка элементной базы. Тестирование полупроводников. Исследование опытных образцов. Верификация технологических процессов. Анализ тестовых структур. Измерение ВАХ / I-V характеристики. Измерение C-V / Вольт-фарадные характеристикиТрансферные характеристики транзисторов / Isd(Vg). Оценка пороговых напряжений / Threshold voltage. Крутизна транзистора. Частотные зависимости емкости / C-f. Частотные зависимости сопротивления / R-f. Высокотемпературные измерения / Измерения до 300°C. Анализатор полупроводников Keysight B1500A. Keysight B1500A. Параметрический анализатор. Мировой стандарт параметрического анализа. LCR метр Keysight E4980A. Прецизионный измеритель LCR. Зондовая станция Ecopia EPS300. Высокотемпературная зондовая станция. Частотный диапазон от 20 Гц до 2 МГц. Температура до 300°C. Высокая точность измерений. Услуги параметрического анализа. Характеризация полупроводников на заказ. Измерение ВАХ и C-V цена. Аренда лабораторного времени. Аренда зондовой станции с оператором. Тестирование транзисторов стоимость. Keysight B1500A измерения на заказ. Лаборатория полупроводниковых измерений. Для дизайн-центров. Для разработчиков электроники. Для производителей элементной базы. R&D отделы / Научно-исследовательские подразделения. Базовая характеризация от 2 500 руб. Аренда лаборатории от 25 000 руб./смена.

Отзывы (0)

Отзывы

Отзывов пока нет.

Будьте первым, кто оставил отзыв на “Характеризация и Параметрический анализ” Отменить ответ

Ваш адрес email не будет опубликован. Обязательные поля помечены *

Похожие товары

  • Входной контроль и выявление контрафакта (Counterfeit Detection)

    Входной контроль и выявление контрафакта (Counterfeit Detection)

    15 000 ₽
  • Испытания на спецстойкость (Криогенные и магнитные измерения)

    Испытания на спецстойкость (Криогенные и магнитные измерения)

    5 000 ₽
  • Экстракция параметров и SPICE-моделирование

    Экстракция параметров и SPICE-моделирование

    20 000 ₽

ООО "НПК "СПЕЦТЕХНАУКА"


Юридический адрес: 66043 Россия Красноярский край, Красноярск
ул. Чернышевского д. 67,

develop@npk-stn.ru
+7 (391) 250 11 75


Связаться с нами
© 2026 ООО "НПК "Спецтехнаука". Все права защищены.
    0Русский
    • Нет переводов, доступных для этой страницы